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如何在電子設備測試中優化電路設置?

來源:上海自動化儀表有限公司作者:發表時間:2017-12-13 09:51:14

 如何在電子設備測試中優化電路設置?

C電路類型
    許多人忘記了,當您將儀器添加到您的待測設備(DUT)時,它將成為電路的一部分。選擇錯誤的電路設置會導致意想不到的測量問題。
    考慮下面的簡單測量電路,其中DUT可以由兩個不同的直流電路表征。在電路A中,電流源和電壓被測量。在電路B中,電壓源,電流被測量。對于大多數DUT電阻,任一電路將給出大致相同的答案。但是這個故事在DUT阻力值的極端變化。
圖1.jpg
處理極端事件
    當DUT電阻非常高時,直接在DUT上測量電壓(如電路A中所示)很困難,因為伏特計輸入電阻與DUT電阻并聯。這導致大部分電流通過儀表,減少了DUT電流并導致電壓誤差。
    改變設置到電路B解決了這個問題,但可能需要一個非常好的電流表來測量由于高DUT電阻產生的非常低的電流值。在這種情況下,一個實際的解決方案是切換到耦合到鎖定放大器的交流電源,以避免“1 / f”噪聲。
    低電阻也會帶來測量挑戰。對于這些器件,電路B需要高電流來將電壓降降至可測量的數量;不幸的是,這最大化了設備的內部加熱,改變了電阻。因此,電路A是低電阻器件的更好選擇。